Фотоны длиной волны l = 1,4 А испытывают комптоновское рассеяние на угол q = 60°. Рассеянные фотоны попадают в рентгеновский спектрограф, использующий принцип интерференционного отражения Брегга-Вульфа. При какой минимальной толщине кристаллической пластинки спектрографа можно обнаружить изменение длины волны рассеянного излучения (комптоновское смещение) в первом порядке, если постоянная кристаллической решетки d = 1 А?